天星测绘#42 类科技研究注册
申请/注册号：17222968
初审日期：2016-05-27
商标类型：一般
注册日期：2016-08-28
申请日期：2015-06-16
截止日期：2026-08-27
商标其他信息
保护的商品
4209 —— 校准（测量）
4210 —— 地质勘测
4210 —— 土地测量
4210 —— 地质勘探
4217 —— 建筑学服务
4217 —— 建筑学咨询
4217 —— 建筑制图
商标申请流程
撤销连续三年停止使用注册商标 有退信(关于提供注册商标使用证据的通知)
2020年07月28日
撤销连续三年停止使用注册商标 排版送达公告(关于提供注册商标使用证据的通知)
2020年09月10日
商标注册申请 注册证发文
2016年09月23日
撤销连续三年停止使用注册商标 申请收文
2020年03月19日
撤销连续三年停止使用注册商标 受理通知书发文
2020年07月17日
撤销连续三年停止使用注册商标 提供证明通知发文
2020年07月08日
撤销连续三年停止使用注册商标 继续有效通知发文
2020年10月20日
商标注册申请 受理通知书发文
2015年10月16日
商标注册申请 申请收文
2015年06月16日
