上谱分析#42 类科技研究注册
申请/注册号：13913573
初审日期：2014-11-27
商标类型：一般
注册日期：2015-02-28
申请日期：2014-01-14
截止日期：2025-02-27
商标其他信息
是否共有商标否
初审公告期号1433
注册公告期号1445
代理机构中智联合(武汉)知识产权管理有限公司
申请人名称武汉上谱分析科技有限责任公司
申请人地址湖北***1栋
保护的商品
4209 —— 科学实验室服务
4209 —— 物理研究
4209 —— 质量检测
4209 —— 技术研究
4210 —— 地质研究
4211 —— 化学分析
4212 —— 生物学研究
4214 —— 材料测试
4220 —— 计算机编程
商标申请流程
商标注册申请 打印受理通知
2014年01月23日
商标注册申请 申请收文
2014年01月14日
商标注册申请 注册证发文
2015年04月23日
